芯片测试（4）——Functional Test

芯片测试（4）——Functional Test

一、引言

功能测试（Functional test）引入了一些新术语:

pattern：设备设计用于执行的各种逻辑功能的输入和输出状态的表示。输入数据由测试系统提供给被测设备。将输出模式数据与DUT输出引脚的响应进行比较。在功能测试期间，pattern被执行或应用到DUT。如果预期的输出数据与被测设备的输出数据不匹配，则会发生功能故障。pattern也称为测试向量或真值表。测试向量通常表示为1和0的序列或表示逻辑电平的其他字符。